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作 者：劉海蘭； 王建國； 魏志堅； 吳永安； 張華
關 鍵 詞：GH4169合金,,環(huán)形鍛件,,低倍組織
文獻摘要：針對采用真空感應、真空自耗重熔雙聯(lián)冶煉工藝的GH4169合金棒材所生產(chǎn)的環(huán)形鍛件,其內(nèi)部出現(xiàn)的低倍組織缺陷展開實驗分析,通過對缺陷位置進行解剖觀察低倍和微觀組織形貌,以及對缺陷區(qū)域和基體正常區(qū)域進行能譜分析比較等,提出形成缺陷的主要原因可能是由于Nb、Ti元素偏析、δ相及MC富集產(chǎn)生,并就抑制缺陷形成方案提出了建議。