GB/T 18032-2000砷化鎵單晶AB微缺陷檢驗(yàn)方法
中文名稱：砷化鎵單晶AB微缺陷檢驗(yàn)方法
英文名稱：The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 18032-2000
標(biāo)準(zhǔn)類型CN
發(fā)布日期：2000-4-3
實(shí)施日期：2000-9-1
摘要：
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